HIOKI日置阻抗分析儀IM3570,京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM3570,京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM3570,京都玉崎日本原裝進(jìn)口
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量 ● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量 ● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量 ● 可以用于無線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測(cè)量和峰值比較器功能對(duì)共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定,并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測(cè)量進(jìn)行檢查。掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量一臺(tái)儀器全部實(shí)現(xiàn)。